高分辨透射电子显微镜(Tecnai F30 )
点击数: 2596     更新时间: 2016-03-25



图片说明:


仪器名称
 Tecnai F30 场发射透射电子显微镜系统
制造商
荷兰 Philips-FEI 公司
仪器简介与用途

广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体、高分子、陶瓷、纳米材料等内部超微结构图像观察,图像分析、处理。

主要配置及技术指标

Tecnai F30场发射透射电镜主机,包括计算机工作站和单倾、低背景双倾等几种样品杆;数子化、一体化STEM透射扫描附件,包括HAADF探头;数子化、一体化EDX能谱仪系统,包括能谱频谱分析技术软件;数子化、一体化CCD相机,包括622视频TV,CCD相机和794CCD平板相机照相系统;辅助设备包括冷却水机和空压机等。

Schottky 场发射灯丝

加速电压范围: 50kV~300kV

点分辨率: 0.20nm;线分辨率:0.10nm;信息分辨率:0.14nm

物镜球差系数Cs:1.2mm; 物镜色差系数Cc:1.4mm

聚焦长度:2.3mm;最小聚焦步长:0.3nm

最小束斑尺寸:0.3nm;最大会聚角:±12º

TEM放大倍数: 60×~1000,000×

选区衍射相机常数:35mm~2300mm

STEM放大倍数;50×~3000,000×(+8× zoom)

STEM图象分辨率:0.17 nm

样品台最大倾角:±40 º

样品台:计算机控制、全对中、侧插式5轴马达台(CompuStage);x, y移动范围2mm;可存储和回复无数各维或5维位置,回复精度≤ 300nm,样品漂移≤ 1nm/min

样品真空度≤ 2.7×10-5Pa

EDX分析元素范围:铍Be~铀U92

能谱仪探头分辨率:≤ 138 ev; 峰背比20000:1

794CCD相机:1024×1024像素图像峰辨率